稳态/瞬态荧光光谱仪（PL）是用于测量材料发光性能的核心设备，通过激发光源（如氙灯、激光器）激发样品，并检测其发射的荧光信号。稳态模式扫描发射光谱，获得强度-波长关系，用于分析发光颜色、强度及量子产率；瞬态模式通过脉冲激光和时间相关单光子计数（TCSPC）技术，测量荧光寿命衰减曲线，揭示激发态动力学过程。该技术广泛应用于量子点、OLED材料、荧光探针及光催化剂的发光机理、能量转移和缺陷态研究，为光物理与光化学分析提供关键参数。

1. 粉末样品：一般需要20mg以上（变温测试最好30mg以上，样品量太少，可提前与项目经理沟通确认），块状或薄膜样品要求尺寸在1*1cm-2*2cm之间；

2. 液体样品：5ml左右，浓度自己把控；测液体的量子效率，需同时提供溶剂5ml；

1、 测光谱需要用到激光器的什么光源？

答：荧光光谱仪测常规发射谱的光源就是氙灯，测寿命的激光器光源不适合来测光谱！有些材料只能在特定激光激发下才能产生荧光，其发射光谱需要特定波长的大功率激光器来测，即激光诱导的荧光。像一些光催化、半导体材料等，可以考究下文献测稳态谱用的是什么光源，氙灯测试合不合适。如需要激光光源测光谱的请点击拉曼-荧光联用测试，用拉曼设备测试激光诱导的荧光。

2、 样品一定先测稳态，再测量子产率、瞬态光谱吗？

答：产率测试前，样品要测过光谱，不要没有测过荧光就要直接测产率。可同时预约“发射谱”+“量子产率”测试；稳态谱的数据是寿命测试的必要条件，没有测过光谱的，不清楚监测波长的，务必选择发射谱测试。一般稳态谱和寿命用的激发波长是一样的，或者是相近波长的激光器。荧光寿命的监测波长通常是光谱峰位或根据样品发射机制来确定的。