UPS用于测定导体或半导体材料的功函数与价带顶。

1.块体或薄膜:尺寸小于1cmx1cm，厚度小于2mm，最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料，表面平整无污染（请标记好测试面）。

2. 粉末:建议压缩在导电胶上或者使用旋涂法制备样品要求是基材材质为ITO、FTO、单晶硅片等半导体材料，尺寸必须大于5*5mm-小于等于10*10mm左右，厚度小于2mm，涂完膜干燥后能看到薄薄一层样品即可。

1样品为什么必须是导体或半导体？

测试UPS的样品必须导电，不然测量出来的WF或者VB不准，但样品很薄的话，对导电性的要求较低，但需导电。

2.偏压和无偏压的数据分别时候时候用？

①无偏压模式：验证样品导电性、测定价带顶；

②偏压模式：测定功函数、价带顶，验证半导体类型（P型/N型）

3.HOMO能级能通过UPS测试得到吗？

一般用电化学的循环伏安法测量HOMO，可以把UPS的价带顶作为HOMO，但与真实的HOMO的对应关系还没有定论。UPS测不了材料的所有能级，只能测费米能级、价带