矢量网络可以测试电磁屏蔽和吸波性能。

电磁屏蔽计算主要用S参数，吸波效率计算用电磁参数。

1，粉末样品测试需要用同轴法，粉末样品至少200mg（不需要提供石蜡）；

2，块体样品测试同轴法，样品尺寸精度要求很高，内径3.04，外径7mm；厚度：不限，一般统一选择（ 2±0.040 mm）；

3，块体样品测试波导法，不同范围对应不同尺寸，要求样品表面尽量平整光滑、无弯曲。样品尺寸：标准尺寸或者长宽尺寸偏大2-3mm，样品厚度：不限，微米级别-20mm都可以，对于厚度小于0.5mm的薄膜，由于较脆弱，制样不易，尽量大小要提供比标准尺寸大一些，以免出现漏磁，造成数据偏差。

标准尺寸具体如下（宽*长，厚度不限）：

1.13-1.73GHz：82.4*164.8 mm

1.72-2.61 GHz：54.46*108.92 mm

2.60-3.95 GHz：33.89*71.84 mm

3.94-5.99 GHz：22.0*47.25 mm

5.38-8.17 GHz：15.75*34.70 mm

8.2-12.4GHz：22.9*10.2mm

12.4-18.0GHz：15.9*8.03mm

18.0-26.5GHz：10.95*4.5mm

26.0-40.0GHz：7.15*3.60mm；

4，块体样品测试弓形法，样品要求 180*180mm，300*300mm，600*600mm三个尺寸中的一种（直接测吸波效率，测不了电磁参数）

5，SPDR 接受块体样品，测试需要厚薄均匀，介电常数＞20，

尺寸具体如下（长宽/直径范围，厚度）：

1G：110-190mm，3mm

2.5G：60-120mm，3mm

3G：50-120mm，3mm

5G：50-100mm，1.6mm

10G：30-100mm，1mm

15G：20-100mm，0.5mm

20G：20-40mm，0.5mm

28G：20-40mm，0.5mm

39G：20-40mm，0.5mm

6，准光腔：测试需要厚薄均匀，介电常数<20，长＞40mm,宽＞40mm，厚度＜1mm

7、导电性太好的样品建议测试屏蔽效能，测试电磁参数可能会有异常，请慎重选择！

1、粉末样品测试同轴法时，和石蜡的掺杂比怎么确定？

  这个一般根据样品成分依据参考文献来确认，在没有任何参考的情况下，可以在1：1的基础上测试，然后再根据测试结果来调整比例。此外样品的比例不宜过高，过高会致使样品无法制成同轴环，导致制样失败，无法测试。

2、为什么介电常数测出来是负值？

  这个一般是因为样品和石蜡掺杂时比例过高所致，样品比例过高使得掺杂后形成导电通道，接近导体，造成数据异常，但是仍然可以通过数据中S参数计算屏蔽效能。这种情况，一般建议调整样品掺杂比例。