1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：20-30mg
3. 块状、薄膜样品：块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm
注意：默认是一个样品测试一个位置，需要测试多个位置按照多个样品计费。薄膜、块体等样品，若样品表面组分不均匀，会造成测试结果的差异！

1.XPS与EDS有何不同？                   

二者都是表面元素分析，其中XPS是对固体表面进行化学成分的定性、半定量、元素化合价的分析，而EDS则是元素定性、定量分析。且EDS比XPS测试深度更大一些，大约为几微米，精度不如XPS分析。

2.样品精细谱扫出谱峰？为什么全谱没有？    

全谱主要是用来定性分析的，设置参数的步长比较大，含量低的在全谱里扫不出谱峰。但是精细谱扫出谱峰就表示有该元素。

3.为何有些样品的测试结果基线偏高？      

有荧光散射现象的样品，如铁含量较高的样品，测试结果会出现基线较高的情况，这是无法改善的。

4.夹带谱与俄歇谱如何选择？      

价带谱是用来分析价带顶或者同分异构体，价带电子结构需结合模拟计算分析，如分析元素价态，无需测试价带谱，价带谱测量的结合能的范围是-5~30 eV。 俄歇谱辅助分析化学价态，常需要测试的元素有：Cu/Ag/Zn/Se/As/Na/F/In/Sn 等。建议原子百分含量大于5%再选择测试俄歇谱。