4、刚度：AFM可以测量样品的刚度，即针尖在样品表面划过时所受到的阻力。对研究材料刚度分布、材料内部结构以及纳米尺度下的力学行为等方面具有重要意义。

1. 样品状态：可为粉末、液体、块体、薄膜样品；

2. 粉末样品：常规测试项目样品起伏一般不超过5微米，特殊测试项目样品起伏一般不超过1um，提供20mg，液体不少于1ml，尺寸过大请提前咨询工作人员；

3. 粉末/液体样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；

4. 薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面！块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果！

5. 测试PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的样品需要导电或至少为半导体；

6. PFM，KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200nm之间，粉末样品测试很难测到较好结果，下单前请确保风险可接受。

1.AFM粉末样品制样的常用基底有哪些？

常用基底有3种：HOPG（高定向石墨），MICA（云母），Si-chip（硅片）。HOPG的优点是导电，主要用于导电样品的测试。M ICA和Si -chip都是常用基底，主要是提供一个平面，可以根据参考文献或之前的测试条件来选取。

2.测试薄膜样品厚度需要多少？

薄膜样品的厚度一般在15um以下。

3.AFM扫描过程中，力曲线反应的是什么物理图像？

力曲线反应的是样品与探针之间的作用力。

4.AFM测试中，对于导电性不佳的样品，是否需要喷金处理呢？

AFM的常规测试模式对样品导电性没有要求，部分电学模块测试，如KPFM，是需要样品导电的。由于金颗粒有一定尺寸，喷金会对形貌有一定影响，所以一般不建议喷金。