超景深显微镜是一种光学显微镜，其核心特点是能在一次对焦中获取超大景深范围的清晰图像。它通过特殊的光路设计和软件算法，将不同焦平面的系列图像进行快速拼接融合，最终合成一张整体清晰的全景深图像。适用于观察表面起伏剧烈、高度差大的样品，如金属断口、集成电路、矿物、昆虫等，无需繁琐的逐层对焦和人工合成，即可实现三维形貌的快速观测和测量。

样品要求：重量不超过10Kg，尺寸不超过500*500*200mm，测试面平整。