原位XRD是利用X射线衍射原理，通过分析样品在不同条件（如温度、压力、电场等）下的衍射峰位置、强度和形状，实时监测材料的晶体结构、相变及微观结构变化。与传统非原位XRD相比，原位XRD能够在材料反应过程中实时获取结构信息，避免因样品处理导致的信息丢失。

1、粉末样品请准备至少50mg，0.1g以上最好，量少可以用微量室，但是效果相对不是很好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；

2、块状样品要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度3mm，需要注明测试面，测试面需要平整光洁。

1. 原位XRD的基本原理是什么？

原位XRD是在材料受外部刺激（如温度、压力、气氛、电场）作用下，利用X射线衍射实时监测晶体结构变化的分析技术；通过特殊设计的反应装置（如高温炉、电化学池、气氛控制器）同步采集衍射图谱，追踪晶格参数演变、相变过程、结晶动力学及缺陷生成等动态结构信息，揭示材料性能与结构的内在关联。

2. 该技术主要解决哪些常规XRD无法解决的问题？

原位XRD能捕获非平衡态中间相、可逆相变路径（如电池电极充放电中的暂态相）、应力诱导结构演变（如合金形变中的位错增殖），以及环境条件下表面重构行为（如催化剂活化中的晶格氧流失），避免淬火或卸压等离线操作导致的结构弛豫或假象。