原位扫描电镜是一种能够在原位条件下（比如变温、拉伸、压缩等）对样品进行实时观察和分析的电镜技术，通过对原位实验过程中样品的各种信息的采集和分析，对样品的微观形态、组成和晶体取向信息与宏观性质(如机械和热力学性质)进行研究，主要应用在材料科学、纳米科技、生物科学等领域。

1、可提供云视频测试；

2、具体样品尺寸请与项目经理沟通确认；

3、可提供拉伸、压缩、变温的原位测试；

4、目前可提供的最低温度可达到 -180℃，最高可达1500℃；

1. 原位扫描电镜（In-situ SEM）的基本原理是什么？

原位扫描电镜通过在SEM样品室内集成特殊功能的样品台或反应装置，使样品在受控的外部条件（如加热、拉伸、电场、气氛）下进行实时观察，利用电子束与样品相互作用产生的信号（二次电子、背散射电子等）高分辨率地表征材料在动态过程中的形貌、成分及结构变化。

2. 该技术相比常规SEM的优势有哪些？

原位SEM能够直接观察材料在外场作用下的实时动态行为，如纳米材料在拉伸过程中的变形与断裂、高温下晶粒生长与相变、电化学沉积或腐蚀过程的表面演变，以及生物样品在含水状态下的微观结构，避免了样品转移或环境变化导致的信息失真。