同步辐射光源能产生高强度、高准直性、波长可调的X射线，为各类X射线散射技术提供了无与伦比的测试平台，极大地提升了其探测能力、分辨率和实验效率。

可以测试粉末、薄膜、块体、液体等。粉末：20mg（只做透射，粉末需研磨），薄膜长宽1cm（提供空白衬底）、块体长宽1cm（基底最好为硬质无机基片），液体2ml。测试默认二维面探测器

1. SAXS和GISAXS的相同点是什么？

基本原理相同，均是利用X射线散射原理来获取物质内部结构信息，通过分析散射图案可以推断出样品的内部结构信息。

2. SAXS和GISAXS的不同点是什么？

SAXS采用正入射，而GISAXS采用掠入射；SAXS比较适用于块体材料，可用于研究纳米至亚微米尺度的物质结构，解决诸如蛋白质折叠、聚合物形态、纳米颗粒大小和形状等问题；GISAXS在垂直方向上具有更高的空间分辨率，其更适用于表面和界面科学研究,专注于表面和界面结构分析，能解决薄膜生长模式、界面粗糙度、纳米结构排列等难题。

3. SAXS的研究对象是什么？

根据 Debye-Bueche 统计理论，散射源于被辐照样品内部的电子密度涨落，因此散射体可以是某种有具体形状的粒子，也可以是微孔。

4. 对于GIWAXS来说，基底该如何选择?样品层厚度控制在多少？

粉末和薄膜有不同的测试方式，粉末一般是进行透射测试(WAXS)，而薄膜可以进行透射(WAXS)和掠入射(GIWAXS)两种测试模式，可以自行根据所需信息选择测试方式。