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TEM-云现场

仪器型号
FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等
预约次数
1029
服务周期
12个工作日
结果满意度
99.54%

项目简介

TEM测试是一种高分辨率的电子显微镜技术,用于观察材料的微观结构和成分。TEM测试的目的可以有很多,常见的测试目的有以下几种情况:
1、观察材料的晶体结构:TEM可以通过电子衍射技术观察材料的晶体结构,包括晶格常数、晶体取向和晶体缺陷等信息。
2、分析材料的成分:TEM可以通过能谱分析技术(EDS)分析材料的成分、元素的种类和含量。
3、研究材料的形貌和尺寸:TEM可以观察材料的形貌和尺寸,包括颗粒的形状、大小和分布等信息。
4、研究材料的界面和界面反应:TEM可以观察材料的界面结构和界面反应,包括晶界、相界和界面反应产物等。

样品要求

1,尽管为云视频订单,为了方便工程师在拍摄前了解清楚样品情况及拍摄要求,请务必下单时写明样品组成,尽量不要只以C、N、Si等元素来描述,选择全所有需要的测试项目,上传参考图。

2,粉体、液体、可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)

3,样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小);

4,一般制样选微珊铜网即可,如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样;样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等;

5,强磁样品请务必提前确定机时;

6,收费项目包含制样+拍摄,拍摄以实际时长为准,多退少补;第一个样品抽真空的时间不计算在内,其余样品抽真空时间包含在内。

7,磁性样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;请务必仔细检查您的样品,若发现以弱磁强磁充当非磁 或者 以强磁充当弱磁非磁,我们将可能无法安排您的实验,不承担以此造成的时间和样品损失;且须赔偿原订单金额的两倍费用!!


结果展示

常见问题

1.TEM与SEM的区别?

SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面;TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。

2.TEM有哪些制样方法?

粉末样品:直接用分散剂超声分散滴在载网上进行观察;或进行树脂包埋,超薄切片后,转移铜网上进行制样;

复型技术:常用复型材料为非晶碳膜和各种塑料薄膜,对样品没有损坏;

化学减薄/双喷减薄:对于大部分金属样品,可以进行化学减薄或双喷减薄;

离子减薄:对于陶瓷或金属合金合物,无法电解腐蚀,只能用离子减薄;

聚焦离子束FIB:与电解双喷和离子减薄相比,可通过SEM在线观察下进行定点制样,获得更高质量的TEM样品。

3.磁性样品都有哪些?

1.含铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、钆(Gd)等铁磁性元素的氧化物、金属、尖晶石等;

2.钕铁硼(NdFeB)/钐钴(SmCo)等稀土永磁材料;

3.钐(Sm)、镨(Pr)、钕(Nd)、镝(Dy)、铽(Tb)等稀土元素的磁性助剂。

4. JPG、TIFF、DM3的区别?

JPG和TIFF均是图片格式,可以直接打开; DM3是源文件,需用DM软件打开。

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